Автоматизированный рентгеновский контроль (AXI) — это технология, основанная на тех же принципах, что и автоматизированный оптический контроль (AOI). В качестве источника излучения она использует рентгеновские лучи, а не видимый свет, для автоматической проверки элементов, которые обычно скрыты от глаз.
Автоматизированный рентгеновский контроль используется в широком спектре отраслей и областей применения, преимущественно с двумя основными целями:
Оптимизация процесса, то есть результаты проверки используются для оптимизации последующих этапов обработки.
Выявление аномалий, то есть результаты проверки, служат критерием для отбраковки детали (для утилизации или доработки).
В то время как AOI в основном ассоциируется с производством электроники (из-за широкого применения в производстве печатных плат), AXI имеет гораздо более широкий спектр применения. Он охватывает все: от контроля качества легкосплавных дисков до обнаружения фрагментов костей в переработанном мясе. В тех случаях, когда производится большое количество очень похожих изделий в соответствии с определенным стандартом, автоматический контроль с использованием передового программного обеспечения для обработки изображений и распознавания образов (компьютерное зрение) стал полезным инструментом для обеспечения качества и повышения производительности в процессе обработки и производства.
Благодаря развитию программного обеспечения для обработки изображений, число применений автоматизированного рентгеновского контроля огромно и постоянно растет. Первые приложения появились в отраслях, где безопасность компонентов требовала тщательной проверки каждой производимой детали (например, сварные швы металлических деталей на атомных электростанциях), поскольку технология, как и ожидалось, была очень дорогой на начальном этапе. Но с более широким внедрением технологии цены значительно снизились, и автоматизированный рентгеновский контроль получил гораздо более широкое применение — отчасти из-за соображений безопасности (например, обнаружение металла, стекла или других материалов в переработанных пищевых продуктах) или для повышения производительности и оптимизации процессов (например, определение размера и расположения отверстий в сыре для оптимизации способов нарезки).[4]
В массовом производстве сложных изделий (например, в электронике) раннее обнаружение дефектов может значительно снизить общую стоимость, поскольку предотвращает использование дефектных деталей на последующих этапах производства. Это приводит к трем основным преимуществам: а) обеспечивает обратную связь на самой ранней стадии о дефектности материалов или выходе параметров процесса из-под контроля, б) предотвращает добавление стоимости к уже дефектным компонентам и, следовательно, снижает общую стоимость дефекта, и в) увеличивает вероятность появления дефектов в конечном продукте, поскольку дефект может не быть обнаружен на более поздних этапах контроля качества или функционального тестирования из-за ограниченного набора тестовых шаблонов.
Дата публикации: 28 декабря 2021 г.