Гранитные компоненты широко используются в сфере прецизионного производства, где плоскостность является ключевым показателем, напрямую влияющим на эксплуатационные характеристики и качество продукции. Ниже приводится подробное описание метода, оборудования и процесса определения плоскостности гранитных компонентов.
I. Методы обнаружения
1. Метод интерференции плоского кристалла: подходит для высокоточного определения плоскостности гранитных компонентов, таких как основания оптических приборов, сверхточные измерительные платформы и т. д. Плоский кристалл (элемент оптического стекла с очень высокой плоскостностью) плотно прилегает к гранитному компоненту, который должен быть проверен на плоскости, используя принцип интерференции световых волн, когда свет проходит через плоский кристалл и поверхность гранитного компонента, образуя интерференционные полосы. Если плоскость элемента идеально плоская, интерференционные полосы представляют собой параллельные прямые линии с равным интервалом; Если плоскость вогнутая и выпуклая, полоса будет изгибаться и деформироваться. В зависимости от степени изгиба и интервала между полосами по формуле рассчитывается погрешность плоскостности. Точность может достигать нанометров, и небольшое отклонение плоскости может быть точно обнаружено.
2. Метод измерения электронного уровня: часто используется для крупных гранитных компонентов, таких как станины станков, большие портальные обрабатывающие платформы и т. д. Электронный уровень помещается на поверхность гранитного компонента для выбора точки измерения и перемещения по определенной траектории измерения. Электронный уровень измеряет изменение угла между собой и направлением силы тяжести в режиме реального времени с помощью внутреннего датчика и преобразует его в данные об отклонении горизонтальности. При измерении необходимо построить измерительную сетку, выбрать точки измерения на определенном расстоянии в направлениях X и Y и записать данные для каждой точки. С помощью анализа программного обеспечения для обработки данных можно установить плоскостность поверхности гранитных компонентов, а точность измерения может достигать микронного уровня, что может удовлетворить потребности в определении плоскостности крупномасштабных компонентов в большинстве промышленных сцен.
3. Метод обнаружения КИМ: комплексное обнаружение плоскостности может быть выполнено на гранитных компонентах сложной формы, таких как гранитная подложка для форм специальной формы. КИМ перемещается в трехмерном пространстве через зонд и касается поверхности гранитного компонента, чтобы получить координаты точек измерения. Точки измерения равномерно распределяются на плоскости компонента, и строится измерительная решетка. Устройство автоматически собирает данные о координатах каждой точки. Использование профессионального измерительного программного обеспечения, в соответствии с данными координат для расчета погрешности плоскостности, может не только обнаружить плоскостность, но и может получить размер компонента, форму и допуск положения и другую многомерную информацию, точность измерения в соответствии с точностью оборудования различна, как правило, от нескольких микрон до десятков микрон, высокая гибкость, подходит для различных типов обнаружения гранитных компонентов.
II. Подготовка испытательного оборудования
1. Высокоточный плоский кристалл: выберите соответствующий прецизионный плоский кристалл в соответствии с требованиями к точности обнаружения гранитных компонентов. Например, для обнаружения наноплоскостности необходимо выбрать сверхточный плоский кристалл с погрешностью плоскостности в пределах нескольких нанометров, а диаметр плоского кристалла должен быть немного больше минимального размера проверяемого гранитного компонента, чтобы обеспечить полное покрытие области обнаружения.
2. Электронный уровень: выберите электронный уровень с точностью измерения, соответствующей требованиям, например, электронный уровень с точностью измерения 0,001 мм/м, подходящий для высокоточного обнаружения. Также необходимо подготовить соответствующее магнитное основание стола для надежной фиксации уровня на поверхности гранитного компонента, а также кабели для сбора данных и программное обеспечение для сбора данных, чтобы обеспечить запись и обработку данных в режиме реального времени.
3. Координатно-измерительный прибор: в зависимости от размера и сложности формы гранитных деталей необходимо выбрать подходящий типоразмер координатно-измерительного прибора. Крупногабаритные детали требуют использования датчиков с большим ходом, а для сложных форм требуется высокоточное измерительное оборудование и мощное программное обеспечение. Перед измерением КИМ калибруется для обеспечения точности датчика и позиционирования координат.
III. Процесс тестирования
1. Процесс интерферометрии с плоским кристаллом:
◦ Очистите поверхность гранитных компонентов, подлежащих осмотру, и плоскую поверхность кристалла, протрите безводным этанолом, чтобы удалить пыль, масло и другие загрязнения, чтобы обеспечить плотное прилегание двух компонентов без зазоров.
Медленно поместите плоский кристалл на поверхность гранитного элемента и слегка надавите, чтобы они полностью соприкоснулись, избегая при этом образования пузырьков или перекоса.
◦ В темной комнате используется источник монохроматического света (например, натриевая лампа) для вертикального освещения плоского кристалла, наблюдения интерференционных полос сверху и регистрации формы, направления и степени кривизны полос.
◦ На основе данных интерференционных полос рассчитайте погрешность плоскостности, используя соответствующую формулу, и сравните ее с требованиями к допуску плоскостности компонента, чтобы определить, соответствует ли он требованиям.
2. Процесс электронного измерения уровня:
◦ На поверхность гранитного компонента наносится измерительная сетка для определения местоположения точки измерения, а расстояние между соседними точками измерения устанавливается разумно в соответствии с требованиями к размеру и точности компонента, обычно 50–200 мм.
◦ Установите электронный уровень на магнитное основание стола и прикрепите его к начальной точке измерительной сетки. Включите электронный уровень и запишите начальное положение после стабилизации показаний.
◦ Перемещайте электронный уровень точка за точкой по измерительному пути и записывайте данные нивелирования в каждой точке измерения, пока не будут измерены все точки измерения.
◦ Импортируйте измеренные данные в программное обеспечение для обработки данных, используйте метод наименьших квадратов и другие алгоритмы для подгонки плоскостности, сформируйте отчет об ошибке плоскостности и оцените, соответствует ли плоскостность компонента стандарту.
3. Процесс обнаружения КИМ:
◦ Поместите гранитный компонент на рабочий стол КИМ и надежно зафиксируйте его с помощью приспособления, чтобы компонент не сместился во время измерения.
◦ В соответствии с формой и размером компонента траектория измерения планируется в измерительном программном обеспечении для определения распределения точек измерения, обеспечивая полный охват проверяемой плоскости и равномерное распределение точек измерения.
◦ Запустите КИМ, переместите зонд по запланированному маршруту, свяжитесь с точками измерения поверхности гранитного компонента и автоматически соберите данные о координатах каждой точки.
◦ После завершения измерения программное обеспечение для измерения анализирует и обрабатывает собранные данные координат, вычисляет погрешность плоскостности, формирует отчет об испытаниях и определяет, соответствует ли плоскостность компонента стандарту.
If you have better advice or have any questions or need any further assistance, contact us freely: info@zhhimg.com
Время публикации: 28 марта 2025 г.